SP SP-3880AA系列原子吸收分光光度计-3880AA系列原子吸收分光光度计是上海光谱承担的上海市科委2007科研条件支撑项目“全自动石墨炉火焰原子吸收一体机的研制”项目（项目编号：061422003）成果转化的新产品，其中SP-3880AA为交直流塞曼扣背景全自动石墨炉火焰原子吸收一体机。 

SP-3880AA系列集多项先进技术和独特功能于一体。仪器具有的突出性能有： 
1. SP-3880AA在石墨炉直流供电横向加热技术、自动补偿石墨炉电阻变化技术、横向可变交流磁场塞曼背景校正技术、自吸背景校正技术等关键技术方面具有创新性，已申请7项发明专利（其中5项已获初审合格通知书），3项实用新型专利（其中“一种有利于精确夹紧的石墨炉头” 专利号：200820155398.6 证书号 1270983）。 
2. 该产品为石墨炉火焰原子吸收一体化设计，避免了石墨炉与火焰两种模式的机械切换，操作方便，系统具有交直流塞曼扣背景功能，能较好检测高背景样品的小信号，也能直接检测高温元素，具有较广泛的应用前景。 
3. 该产品实现了全反射双原子化器串联型结构技术、开关型石墨炉直流加热电源技术、交直流塞曼背景校正技术均为国内首创。 
4. SP-3880AA不仅实现了横向可变交流磁场、直流磁场塞曼背景校正的一体化，并且实现了这两种磁场塞曼背景校正的同时进行，使得系统不仅既有恒定磁场的优点又有交变磁场的优点，同时在实际应用中方便的进行方法优化，且为塞曼背景校正的深入研究提供了条件，该技术为国际首创。

应用领域和用途： 
仪器定位于中挡偏上价位和性能，具有多种不同配置以适应于不同用户的需求。价格从25万元～45万元不等。仪器可广泛应用于食品、医药、环境、生物、农业、石油化工、建筑、材料、地质、冶金、科研等领域。鉴于仪器具有优良的交流、直流塞曼背景和氘灯背景校正能力，该背景校正系统除能很好地校正传统的分子吸收和粒子散射背景外，还能校正结构背景和部分谱线重叠干扰，尤其适用在测定食品、中药材、海水、血液、生物制品、高盐溶液等样品的痕量元素分析检验领域中使用。特别是对于日常必须分析的元素如Cd、Pb、Cu、Zn等，校正性能可与进口塞曼仪器塞曼相媲美，但仪器价格仅为进口塞曼仪器的1/2，将更适合我国国情。

技术参数：

主要技术性能（指标）： 
波长范围：190nm~900nm 
波长准确度：±0.2nm 
波长重复性：±0.1nm 
仪器光度误差：1.0Abs时≤0.01Abs，2Abs时≤0.02Abs 
静态基线稳定性Cu）：±0.003A/30min 
静态基线瞬时噪声（Cu）： 0.001A/5min(峰－峰值)； 
火焰特征浓度：Cu 0.03mg/L 
测量精密度（RSD）：Cu优于0.5％ 
测量检出限：Cu≤0.006 mg/L 
石墨炉特征量：Cd优于0.5pg 
测量精密度（RSD）：Cd优于4％ 
测量检出限：Cd≤1pg 
氘灯背景校正能力：大于50倍（1Abs背景） 
塞曼背景校正能力：大于100倍（1Abs背景）

主要特点：

本仪器有多项不同于同类仪器的创新，主要的创新点有：

1、 国内外首创交、直流塞曼背景同时校正技术 
该技术充分利用可变磁场电源，创造一种交流、直流磁场双检测器的测量方式，实现了交、直流塞曼效应原子吸收背景的同时较正，并易于校正快速变换的背景信号。本产品既有交流磁场塞曼背景校正的优点，又具有直流磁场塞曼背景校正的优点，并使两者的诸多缺点得以消除，该技术相对于原有的交变磁场塞曼背景校正，具有对于一些低温元素测量经常遇到的快速变化的背景信号基本不会带来误差的优点。该技术相对于原有的直流磁场塞曼背景校正，具有磁场参数可以调整的特点，并具有分析灵敏度高的特点。交、直流塞曼背景同时校正技术为国内外首创。

2、 国内首创的开关型石墨炉直流加热电源技术 
该具有如下优点：1.首先由于采用了直流开关电源，相对于原有的交流电源体积大大缩小，从而节省了空间；2.直流开关电源可以直接植入石墨炉内部，作为内部电源，以减少了引线，从而减少了引线上的电能消耗，和增加了系统的稳定性；3.由于采用了直流开关电源，电能输出稳定，有利于提高石墨管电阻测量精度；4. 良好的高温元素测定性能；5.由于采用了直流开关电源，石墨炉温度测量变得更为准确，石墨炉背景辐射影响大幅度降低；6.原子化升温稳定快速，且无噪音和石墨炉体振动；7 .该电源无可控硅电磁辐射，更环保。该技术为国内首创。